Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger
|
Descargar SCORM
Este recurso ha sido solicitado 1 veces (0 veces en los últimos 31 días).
Para poder solicitar este recurso debe identificarse como usuario de la biblioteca
|
| |
Ver
Detalles del recurso
|
|
|
Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger
|
| Id. |
3915664 |
| Titulo |
Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger |
| Autor(es) |
Castro González, Antonio Jesús de
|
| Localización |
http://eprints.ucm.es/tesis/19911996/X/1/X1005801.pdf
|
| Versión |
1.0 |
| Estado |
Final
|
| Palabras clave |
Física del estado sólido
|
| Tipo de recurso |
Tesis
PeerReviewed
|
| Tipo de Interactividad |
Expositivo
|
| Nivel de Interactividad |
muy bajo
|
| Audiencia |
Estudiante
Profesor
Autor
|
| Estructura |
Atomic |
| Coste |
no
|
| Copyright |
sí
|
| Requerimientos técnicos |
Browser: Any
|
| Relación |
[References] http://eprints.ucm.es/1886/
|
| Fecha de contribución |
04-jun-2009 |
| Contacto |
|
|
|
|
|
Valoración de los usuarios
No hay ninguna valoración para este recurso. Sea el primero en
valorar este recurso.
|
|
|
|
