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Detalles del recurso
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Descarga Interna e Tensão de Retorno em Capacitores
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| Id. |
549147 |
| Idioma |
portugués
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| Titulo |
Descarga Interna e Tensão de Retorno em Capacitores |
| Autor(es) |
Robert,Renê
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| Location |
http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0102-47442001000300007
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| Versión |
1.0 |
| Estado |
Final
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| Descripción |
Os fenômenos de descarga interna e tensão de retorno em capacitores são calculados no caso onde a resposta do dielétrico é da forma exponencial no tempo. Com esta hipótese a matemática envolvida é simples e as características gerais dos fenômenos de hereditariedade podem ser seguidas.
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| Tipo |
text/html
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| Tipo de recurso |
journal article
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| Tipo de Interactividad |
Expositivo
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| Nivel de Interactividad |
muy bajo
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| Audiencia |
Estudiante
Profesor
Autor
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| Estructura |
Atomic |
| Coste |
no
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| Copyright |
sí
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| Formatos |
text/html
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| Requerimientos técnicos |
Browser: Any
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| Fecha de contribución |
23-may-2005 |
| Contacto |
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