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Detalles del recurso

Descripción

Potential-induced degradation (PID) of photovoltaic (PV) modules may occur when high potential differences between the solar cell and the grounded frame are present. According to Naumann et al., the induced electrical field causes a leakage current and sodium ion (Na+) diffusion into stacking faults through the PN-junction of the solar cell, resulting in a substantial lowering of the shunt resistance.

Pertenece a

Document Server@UHasselt  

Autor(es)

Carolus, Jorne -  Daenen, Michaël - 

Id.: 69788406

Idioma: inglés  - 

Versión: 1.0

Estado: Final

Tipo:  application/pdf - 

Tipo de recurso: Conference Material  -  Non-Refereed  -  Poster  - 

Tipo de Interactividad: Expositivo

Nivel de Interactividad: muy bajo

Audiencia: Estudiante  -  Profesor  -  Autor  - 

Estructura: Atomic

Coste: no

Copyright: sí

Formatos:  application/pdf - 

Requerimientos técnicos:  Browser: Any - 

Relación: [References]  S. Pingel et al., “Potential induced degradation of solar cells and panels.”  V. Naumann et al., “Explanation of potential-induced degradation of the shunting type by Na decoration of stacking faults in Si solar cells.”

Fecha de contribución: 13-abr-2017

Contacto:

Localización:
* Sunday 2016, Veldhoven - Nederland, 23/11/2017

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