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Materia = Optica

Mostrando recursos 1 - 7 de 7

  1. Steady-state thermal analysis of an innovative receiver for linear Fresnel reflectors

    Abbas Cámara, Rubén; Muñoz Antón, Javier; Martínez-Val Peñalosa, José María
    The study of the performance of an innovative receiver for linear Fresnel reflectors is carried out in this paper, and the results are analyzed with a physics perspective of the process. The receiver consists of a bundle of tubes parallel to the mirror arrays, resulting on a smaller cross section for the same receiver width as the number of tubes increases, due to the diminution of their diameter. This implies higher heat carrier fluid speeds, and thus, a more effective heat transfer process, although it conveys higher pumping power as well. Mass flow is optimized for different tubes diameters, different...

  2. In-situ optical reflectance characterization of ion beam irradiation damage on crystalline (quartz) and amorphous (silica) SiO2

    Crespillo Almenara, Miguel; Peña Rodríguez, Ovidio Y.; Manzano Santamaría, Javier; Rivera de Mena, Antonio; Jimenez Rey, D.; Agullo Lopez, Fernando
    Outline: • Motivation, aim • Complement waveguide data on silica • Optical data in quartz • Detailed analysis, i.e. both fluence kinetics and resolution • Efficiency of irradiation and analysis, samples, time... • Experimental set-up description • Reflectance procedure • Options: light source (lasers, white light..), detectors, configurations • Results and discussion • Comparative of amorphous and crystalline phases

  3. Refractive index changes in amorphous SiO2 (silica) by swift ion irradiation

    Peña Rodríguez, Ovidio Y.; Manzano Santamaría, Javier; Olivares, J.; Rivera de Mena, Antonio; Agullo Lopez, Fernando
    The refractive index changes induced by swift ion-beam irradiation in silica have been measured either by spectroscopic ellipsometry or through the effective indices of the optical modes propagating through the irradiated structure. The optical response has been analyzed by considering an effective homogeneous medium to simulate the nanostructured irradiated system consisting of cylindrical tracks, associated to the ion impacts, embedded into a virgin material. The role of both, irradiation fluence and stopping power, has been investigated. Above a certain electronic stopping power threshold (∼2.5 keV/nm), every ion impact creates an axial region around the trajectory with a fixed refractive index...

  4. Avances en la fabricación de células y módulos fotovoltaicos de silicio en capa fina mediante láser

    Fernández Robledo, Susana; Lauzurica Santiago, Sara; García-Ballesteros Ramírez, Juan José; Molpeceres Álvarez, Carlos Luis; Guadaño Ayuso, Gonzalo; Allen-Perkins, F.; Ocaña Moreno, José Luis
    El láser es un instrumento omnipresente en la fabricación de módulos fotovoltaicos. Los láser estándar para la interconexión monolítica de dispositivos de lámina delgada de a-Si son láser de estado sólido bombeados por diodo (DPSS) emitiendo en longitudes IR (λ=1064 nm) y en VIS (λ=532 nm). En este trabajo mostramos estudios de ablación de algunos materiales fotovoltaicos (óxidos conductores transparentes (OCT) y a-Si) con láser emitiendo en UV en el régimen de nanosegundos (ns). La afección térmica resultante en la ablación es menor, y por tanto se reduciría el riesgo de cortocircuitos en la interconexión monolítica, convirtiendo a las fuentes...

  5. Calibración de Microscopios Confocales

    Vicente y Oliva, Jesus de; Molpeceres Álvarez, Carlos Luis; Guarneiros, O.; García-Ballesteros Ramírez, Juan José
    El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el...

  6. Micromecanizado Láser de Componentes de Gran calidad de Acabado Superficial

    Molpeceres Álvarez, Carlos Luis; García-Ballesteros Ramírez, Juan José; Lauzurica Santiago, Sara; Vicente y Oliva, Jesus de; Ocaña Moreno, José Luis
    El uso de láseres pulsados con anchos temporales de nanosegundos y longitudes de onda en el rango Ultravioleta, permiten un preciso control del material abferido, convirtiendo dicha técnica en una herramienta fundamental para mecanizados que requieren de una gran calidad y acabado, con relaciones de aspecto muy altas. Este trabajo presenta un análisis paramétrico de la influencia de las distintas variables de proceso para diferentes tipos de materiales (metálicos, dieléctricos, materiales orgánicos, etc) en la calidad y acabado final. The use of nanoseconds U.V. lasers permits a precise control in ablation’s processes. As a result this tool plays a fundamental...

  7. TEMPLUM: A Process Adapted Numerical Simulation Code for The 3D Predictive Assessment of Laser Surface Heat Treatments in Planar Geometry

    García Beltrán, Ángel; Ocaña Moreno, José Luis; Molpeceres Álvarez, Carlos Luis
    A process adapted numerical simulation code for the 3D predictive assessment of laser heat treatment of materials has been developed. Primarily intended for the analysis of the laser transformation hardening of steels, the code has been successfully applied for the predictive characterization of other metallic and non metallic materials posing specific difficulties from the numerical point of view according to their extreme thermal and absorption properties. Initially based on a conventional FEM calculational structure, the developed code (TEMPLUM) reveals itself as an extremely useful prediction tool with specific process adapted features (not usually available in FEM heat transfer codes) in...

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